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產(chǎn)品中心實驗檢測儀器粗糙度測量儀PZ-30LS非接觸粗糙度測量儀
產(chǎn)品簡介
非接觸粗糙度測量儀主要應(yīng)用于：油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導(dǎo)體、特種材料表面粗糙度測量等。
產(chǎn)品分類
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產(chǎn)品簡介：
非接觸粗糙度測量儀采用壓電掃描方式非接觸測量粗糙度。掃描方式：壓電掃描臺帶動測頭掃描，樣品固定。非接觸式表面粗糙度輪廓儀對表面粗糙度的測量，就是利用對被測表面形貌沒有影響的手段間接反映被測表面的信息來進(jìn)行測量的方法，這類方法最大的優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護(hù)了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差.
更小體積——是傳統(tǒng)接觸式輪廓儀1/4體積，方便系統(tǒng)集成。
更小測量光斑——測量光斑2um，
高精度——10nm重復(fù)性、20nm測量精度，
接觸式測量——不會劃傷樣品表面，沒有探針損耗。
產(chǎn)品應(yīng)用：
非接觸粗糙度測量儀主要應(yīng)用于：油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導(dǎo)體、特種材料表面粗糙度測量等。
表面粗糙度是機(jī)械加工中描述表面微觀形貌常用的參數(shù)，它反映的是機(jī)械零件表面的微觀幾何形狀誤差，隨著機(jī)械加工行業(yè)的發(fā)展表面粗糙度測量技術(shù)也得到長足進(jìn)步，特別是70年代中后期，隨著微電子計算機(jī)應(yīng)用的逐步普及和現(xiàn)代光學(xué)技術(shù)、激光應(yīng)用技術(shù)的發(fā)展，使粗糙度測量技術(shù)在機(jī)械加工、光學(xué)加工、電子加工等精密加工行業(yè)中的地位顯得愈發(fā)重要。
表面粗糙度的測量方法基本上可分為接觸式測量和非接觸式測量兩類：在接觸式測量中主要有比較法、印模法、觸針法等;非接觸測量方式中常用的有光切法、散斑法、像散測定法、光外差法、AFM 、飛光學(xué)傳感器法等。
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